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        導波雷達物位計ZRD-70A

        導波雷達物位計ZRD-70A

        發布時間:2018-05-09

        所屬分類:pH計酸度計系列

        生產廠家:廠家價直供PH計PH測試儀

        產品價格:來電咨詢

        產品詳情產品詢盤
        測量原理
          原 理:
          導波雷達發出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質,由于介電常數突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。
         
          特 點:
          由于采用了先進的微處理器和獨特的choDiscovery回波處理技術,導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
          多種過程連接方式及探測組件的型式,使得DDKJ700系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質等。
          采用脈沖工作方式,導波雷達物位計發射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環境均無傷害。
          說 明:
          導波雷達是基于時間行程原理的測量儀表,雷達波以光速運行,運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播,當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收,并將距離信號轉化為物位信號。
          反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分,微處理器對此信號進行處理,識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成,距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T  成正比:
          D=C×T/2
          其中C為光速
          因空罐的距離E已知,則物位L為:
          L=E-D
          通過輸入空罐高度E(=零點),滿罐高度F(=滿量程)及一些應用參數來設定,應用參數將自動使儀表適應測量環境,對應于4-20mA輸出。
         
         
         
         
          測量范圍:
          說明:
          H----測量范圍
          L----空罐距離
          B----頂部盲區
          E----探頭到罐壁的最小距離
          頂部盲區是指物料最高料面與測量參考點之間的最小距離。
          底部盲區是指纜繩最底部附近無法精確測量的一段距離。
          頂部盲區和底部盲區之間是有效測量距離。
         
         
         
          注意:
          只有物料處于頂部盲區和底部盲區之間時,才能保證罐內物位的可靠測量。
          產品簡介
         
         
         
        適用介質:液體,固體粉料
         
          應    用:液體及固體粉狀測量,復雜過程條件
         
          防爆認證:Exia IIC T6 Ga/ Exd ia IIC T6 Gb
         
          測量范圍: 30m
         
          頻    率:500MHz-1.8GHz
         
          天    線:單纜或單桿式天線
         
          測量精度:±10mm
         
          過程溫度:(-40~250)℃
         
          過程壓力:(-0.1~4)MPa
         
          信號輸出:(4~20)mA/HART
         
          現場顯示:四位LCD  可編程
         
          電    源:兩線制(DC24V)/四線制(DC24V/AC220V)
         
          外    殼:鋁/ 塑料
         
          過程連接:螺紋/法蘭(選配)
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